電子負(fù)載是通過(guò)控制內(nèi)部功率（MOSFET）或晶體管的導(dǎo)通量（量占空比大小），依靠功率管的耗散功率消耗電能的設(shè)備。它能夠準(zhǔn)確檢測(cè)出負(fù)載電壓，精確調(diào)整負(fù)載電流，同時(shí)可以實(shí)現(xiàn)模擬負(fù)載短路，模擬負(fù)載是感性阻性和容性，容性負(fù)載電流上升時(shí)間。 一般開(kāi)關(guān)電源的調(diào)試檢測(cè)是*的。
負(fù)載使用
電子負(fù)載整合具有測(cè)試設(shè)備的眾多功能，如負(fù)載瞬態(tài)恢復(fù)時(shí)間、電流極限特性分析、效率、啟動(dòng)時(shí)間、源效應(yīng)(電源調(diào)整率)、編程響應(yīng)時(shí)間、PARD(波紋和噪聲)、功率因子、伏特栓鎖現(xiàn)象、過(guò)壓關(guān)閉、飄移等。
電子負(fù)載可用幾種方法執(zhí)行電源測(cè)試。它們一般是可編程的，但大多數(shù)電子負(fù)載需要外部DAC編程器。這一能力在測(cè)試期間能精確控制負(fù)載值，為測(cè)試裝置操作者提供有價(jià)值的狀態(tài)信息。電子負(fù)載通常采用FET設(shè)計(jì)，它比采用繼電器和電阻器的解決方案更可靠，也更簡(jiǎn)易，還可選擇工作模式：恒流(CC)、恒壓(CV)和恒阻(CR)。較復(fù)雜的電子負(fù)載在一臺(tái)產(chǎn)品中都會(huì)提供這三種模式，具有高測(cè)試靈活性，并且還提供測(cè)量直流電壓和電流這兩種電源的通用解決方案。電子負(fù)載的最后一項(xiàng)優(yōu)點(diǎn)是可提供通過(guò)總線(xiàn)的回讀，而無(wú)需使用一些測(cè)試中測(cè)量電壓和電流的數(shù)字多用表。
